描述:JCI-155v6靜電衰減分析儀美國(guó)國(guó)家航空和宇宙航行局(NASA)采用產(chǎn)品IEC61340-2-1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的模板設(shè)備
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美國(guó)國(guó)家航空和宇宙航行局(NASA)采用產(chǎn)品
IEC61340-2-1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的模板設(shè)備
可以測(cè)試固體,粉體,液體材料的靜電衰減時(shí)間
同時(shí)測(cè)試靜電衰減時(shí)間和電容負(fù)載
可直接放置在成型材料上測(cè)試
量程:10毫秒-99小時(shí)
分辨率:10毫秒
電暈放電電壓:0-9.9KV(可以選擇正負(fù)極性)
衰減比例:可設(shè)置1%-99%
同時(shí)測(cè)量環(huán)境溫濕度
特別設(shè)計(jì)氣閘效應(yīng),消除殘留空氣離子干擾
高精度靜電壓測(cè)試探頭
配套JCI176樣品臺(tái)可測(cè)量轉(zhuǎn)移到測(cè)試料樣上的電量,并計(jì)算出電容負(fù)載
配套JCI173樣品杯可以測(cè)量粉體和液體的靜電衰減期
配套JCI-Graph軟件遠(yuǎn)端控制儀器,顯示數(shù)據(jù)和衰減曲線,形成報(bào)告,分析/打印/儲(chǔ)存數(shù)據(jù)。